| (1) |
X線マイクロ分析(EPMA);数μm以上の物質の構成元素(定性分析)、検出元素の構成比率(半定量分析)、検出元素の分布状態(線分析、特性X線分析、マッピング分析)
適用例;腐食生成物の分析、潤滑油混入異物の分析、粉末物質の分析 |
| (2) |
オージェ分析(AES);数nm以上の物質、変色領域の構成元素(スペクトル分析)、深さ方向の分布(ディプス分析)
適用例;リードフレーム変色部の分析 |
| (3) |
グロー放電発行分光分析(GDS);φ10mm以上のめっき材の深さ方向分布など。
適用例;リードフレームめっき金属の深さ方向濃度分布 |
| (4) |
フーリエ変換赤外線分光分析(FT-IR);有機化合物の分析。
適用例;1)樹脂の劣化、2)ペットボトル混入異物の同定、3)排気ダクトヤニ成分の同定、4)側溝内油分の同定、5)飲料缶蓋用コンパウンドの分析、6)バスタブ内油状物質の分析 |
| (5) |
X線回折(XRD)
適用例 1)腐食生成物等粉末物質の化学構造、2)残留オーステナイト量の測定 |
| (6) |
透過電子顕微鏡(TEM)
適用例 1)抽出レプリカによる析出物の分析、2)薄膜法による転位密度の観察 |